实际测试项目

Actual test items

测试描述:
测试仪器:ESD-20G (3ctest)
气隙接触:+-1000 到 +-15000V
测试次数:连续测试10个循环
测试(气隙)标准:

leve1:+/-2000v;leve2:+/-4000v;

leve3:+/-8000v; leve4:+/-15000v
大发888芯片方案:满足>leve3需求
其它芯片方案: 满足<leve3需求
重点:
一般气隙放电做到8000V,我们远超8000V